راسم الذبذبات UTD2102CEX +

يتم استخدام راسم الذبذبات UTD2102CEX+ لاختبار ما إذا كانت إشارات لوحة التجزئة متصلة، واكتشاف الأخطاء بشكل أسرع، وتوفير أساليب الزناد أكثر ازدهارا، و34 نوعًا من قياس المعلمات التلقائي، ووظائف التشغيل الرياضية القياسية. تحسين تشغيل اللوحة، وتحسين كفاءة العمل بشكل كبير، وتلبية متطلبات القياس للإشارات المعقدة بكفاءة.

كيفية استخدام الذبذبات:

طريقة تصحيح الأخطاء:

1. قم بتدوير زر SCALE لضبط السرعة إلى 100 مللي ثانية.

2. حدد زر CH1. يتم تحديد محتويات قائمة CH1 على النحو التالي: الاقتران (DC 1 MΩ)، حد النطاق الترددي (عرض النطاق الترددي الكامل)، الفولت/div (الضبط الخشن)، المسبار (1X).

ملحوظة: عند تحديد زر CH1، طالما تم الضغط على زر CH2 مرتين على التوالي، سيحدد راسم الذبذبات وضع CH1 تلقائيًا عند إيقاف تشغيل الإضاءة الخلفية لزر CH2.

3. قم بتدوير زر SCALE لتحديد ترس 2V.

4. قم بتدوير زر POSITION لاختيار الخط الأفقي السفلي.

5. قم بتدوير زر LEVEL لتحديد 0V.

6. عندما ترى الشاشة أدناه، فهذا يعني أنه تم إعداد راسم الذبذبات.

7. أدخل قابس قلم الاختبار في الفتحة رقم 1.

8. قم بتبديل المفتاح الموجود على قلم الاختبار إلى X1.

9. ثبت المشبك الموجود بجانب قلم الاختبار بالطرف السالب للوحة التجزئة. ملحوظة: يجب تثبيت المشبك، إذا كان فضفاضًا أثناء الاختبار، فقد يتسبب ذلك في تلف راسم الذبذبات.

10. في هذه المرحلة، بعد استخدام أداة الاختبار للوحة التجزئة، يمكنك اختبار الشكل الموجي للإشارة لمساعدتنا في العثور بسرعة على الشريحة المعيبة في إصلاح لوحة التجزئة.

يلاحظ:

في الاستخدام الفعلي لقلم اختبار راسم الذبذبات، لأن كيبل المقطع الأصلي قصير، فإنه ليس من المناسب لنا اختبار شكل موجة الإشارة. نحن بحاجة إلى قطع كابل المقطع والعثور على كابل بنفس السماكة تقريبًا للمرور عبره.

المؤشرات الفنية:

القنوات: 2

عرض النطاق: 100 MHz

معدل أخذ العينات: 1GS/s

وقت الارتفاع: ≤ 3.5ns

عمق الذاكرة: 25 kpts

معدل اكتساب الموجي: ≥ 2000 wfms/s

الحساسية العمودية: 1mV ~ 20V/div

نطاق قاعدة الوقت: 2ns/div ~ 50s/div

التخزين: الإعداد، الموجة، الصورة النقطية

أوضاع الزناد: الحافة، النبض، البديل

واجهات: USB OTG