دليل المستخدم لجهاز اختبار لوحات التجزئة الشامل B8 B8PRO

يُعد جهاز اختبار لوحات التجزئة B8 B8Pro أداة صيانة شاملة صُممت خصيصاً لفنيي إصلاح أجهزة ASIC وموظفي صيانة مزارع التعدين. يجمع الجهاز بين وظائف متعددة تشمل: اختبار لوحات التجزئة، وعمليات القراءة والكتابة والمسح لذاكرة EEPROM، واختبار وحدات تزويد الطاقة، واختبار مستشعرات درجة الحرارة، واختبار سرعة المراوح. ومقارنةً بأجهزة الاختبار التقليدية، يتميز هذا الجهاز باستخدام منفذ طاقة من نوع Type-C لسهولة التنقل، كما يدعم التشغيل عبر بنك الطاقة، مما يسهل عمليات الصيانة الميدانية. ويساهم الجهاز بشكل كبير في تقليل الوقت اللازم لتشخيص الأعطال في لوحات التجزئة ووحدات تزويد الطاقة والمراوح.

I. نظرة عامة على منافذ جهاز الاختبار B8 B8Pro

II. دليل مستخدم جهاز الاختبار B8 B8PRO

1. التشغيل والقائمة الرئيسية:

قم بتوصيل كابل Type-C بمحول طاقة (شاحن) بجهد 5 فولت أو ببنك طاقة؛ سيبدأ جهاز الاختبار في العمل تلقائياً وينتقل مباشرة إلى قائمة الاختبار الرئيسية، دون الحاجة إلى جهاز كمبيوتر.

عند الدخول إلى الواجهة، ستظهر لك وظائف الاختبار التي يدعمها الجهاز. استخدم أزرار "لأعلى" و"لأسفل" لاختيار الوظيفة المطلوبة، ثم اضغط على زر "OK" لبدء الاختبار.

2. إجراءات اختبار لوحة التجزئة:

1) اختبار لوحة التجزئة لجهاز Antminer

بأخذ لوحة التجزئة S19XP كمثال، قم بتوصيل اللوحة بجهاز الاختبار B8pro باتباع الخطوات التالية:

① قم بتوصيل جهاز الاختبار بلوحة التجزئة S19XP باستخدام كابل الاختبار ذي الـ 18 سنًا؛

② قم بتشغيل وحدة تزويد الطاقة القابلة للضبط KPS3030D؛

③ قم بتوصيل وحدة تزويد الطاقة بلوحة التجزئة: ثبّت المشبك الأحمر (مشبك التمساح) بالطرف الموجب والمشبك الأسود بالطرف السالب؛

④ قم بتوصيل وتشغيل قاعدة التبريد لتوفير التبريد للوحة التجزئة أثناء الاختبار؛

⑤ اضغط على زر "Output" في وحدة تزويد الطاقة KPS3030D لتزويد لوحة التجزئة بالطاقة؛

يوضح الشكل أدناه مخطط التوصيل:

بعد اختيار "ANT Test" وتحديد طراز الجهاز وطراز الشريحة المناسبين، ستظهر لك واجهة الاختبار الموضحة في الشكل أدناه:

PIC Ver: Comm Failed – تشير إلى أن لوحة التجزئة تفتقر إلى شريحة PIC.

Temp 1: 27 – تشير إلى درجة حرارة شريحة استشعار الحرارة رقم 1.

Temp 2: 25 – تشير إلى درجة حرارة شريحة استشعار الحرارة رقم 2.

Chip Model: BM1366 – تشير إلى طراز شريحة ASIC الموجودة على لوحة التجزئة.

Chip Qty: 77 – تشير إلى العدد الإجمالي لشرائح ASIC التي تم اكتشافها.

2) اختبار لوحة التجزئة لجهاز Whatsminer

بأخذ لوحة التجزئة M50 كمثال، قم بتوصيل جميع الكابلات:

① استخدم كابلات الاختبار الحمراء والسوداء الخاصة بـ Whatsminer لتوصيل جهاز الاختبار بلوحة التجزئة M50؛ ② قم بتشغيل وحدة تزويد الطاقة القابلة للضبط KPS3030D؛

③ قم بتوصيل وحدة تزويد الطاقة بلوحة التجزئة: وصّل المشبك الأحمر (مشبك التمساح) بالطرف الموجب والمشبك الأسود بالطرف السالب؛

④ قم بتوصيل قاعدة التبريد وتشغيلها لتوفير التبريد أثناء الاختبار؛

⑤ اضغط على زر "Output" في وحدة تزويد الطاقة لتغذية لوحة التجزئة بالطاقة؛

يوضح الشكل أدناه مخطط التوصيل:

بعد اختيار "Whats Test"، وتحديد طراز التبريد الهوائي، واختيار الطراز المحدد المراد اختباره، ستظهر لك واجهة الاختبار الموضحة في الشكل أدناه:

Temp 1: 24°C – تشير إلى درجة حرارة شريحة الاستشعار الحراري.

Chip Model: KF1968 – تشير إلى طراز شرائح ASIC الموجودة على لوحة التجزئة.

Chip Qty: 117 – تشير إلى العدد الإجمالي لشرائح ASIC التي تم اكتشافها.

3. قراءة وكتابة ملفات EEPROM الخاصة بلوحة التجزئة

يدعم الجهاز قراءة وكتابة وحفظ ملفات EEPROM للوحات التجزئة من نوعي Whatsminer وAntminer. تشمل حالات الاستخدام الشائعة أخذ نسخة احتياطية من ملف EEPROM الأصلي قبل الإصلاح، ونقل بيانات EEPROM من لوحة سليمة إلى لوحة معطلة لاستعادة تشغيلها.

تتشابه طرق قراءة وكتابة ملفات EEPROM لكل من Antminer وWhatsminer؛ ويُستخدم هنا نموذج لوحة التجزئة Antminer S19XP لأغراض التوضيح.

قم بتوصيل كابل الاختبار بين وحدة الاختبار (المنصة) ولوحة التجزئة؛ ويوضح الرسم التخطيطي أدناه طريقة التوصيل:

① قراءة EEPROM: بعد اختيار "Read Data" (قراءة البيانات)، احفظ بيانات EEPROM الخاصة بلوحة التجزئة الأصلية في "List 1" (القائمة 1). تأكد من إجراء نسخ احتياطي قبل البدء في إصلاح لوحة التجزئة.

② الكتابة إلى EEPROM: بعد اختيار "Write Data" (كتابة البيانات)، اختر "List 1" المحفوظة مسبقاً وانتظر ظهور رسالة "Write OK" التي تشير إلى نجاح عملية الكتابة.

يحتوي جهاز الاختبار على ست فتحات لذاكرة غير متطايرة (non-volatile memory)؛ حيث يمكن حفظ بيانات EEPROM في هذه الفتحات لاستخدامها لاحقاً.

4. عمل قصر لإشارات CI/CO/TX/RXD لتحديد موقع الشريحة المعطلة بسرعة

عندما تفشل لوحة التجزئة في تحقيق معدل التجزئة المطلوب أو يحدث خلل في إحدى شرائح ASIC، يمكن تحديد الشريحة المعطلة بسرعة عن طريق عمل قصر (تلامس) بين إشارات CI/CO/TX/RXD الخاصة بالشريحة والطرف السالب المقابل لها.

الإجراء: ضع أحد طرفي الملقط على نقطة اختبار إشارة CI/CO/TX/RXD الخاصة بشريحة ASIC، والطرف الآخر على الطرف السالب المقابل لنفس الشريحة. إذا تطابق رقم شريحة ASIC التي تم عمل القصر لها مع الرقم المعروض على جهاز الاختبار، فهذا يعني أن الشريحة تعمل بشكل طبيعي؛ أما إذا لم يتطابقا، فالشريحة معطلة.

5. اختبار وحدة تزويد الطاقة لجهاز Antminer

نستخدم وحدة تزويد الطاقة APW12 في هذا العرض التوضيحي. قم بتوصيل وحدة الاختبار بمزود الطاقة باستخدام كابل تنظيم الجهد ذي الأربعة دبابيس؛ يوضح الشكل أدناه مخطط التوصيل:

بعد اختيار "Power Test" (اختبار الطاقة) على جهاز الاختبار، حدد طراز وحدة تزويد الطاقة  والجهد الكهربائي للخارج المطابقين، ثم اضغط على زر "OK" لعرض واجهة الاختبار التالية:

Power Comm: Normal – يشير إلى أن جهد وحدة تزويد الطاقة طبيعي.

6. تقييم حالة المروحة

تقوم وحدة الاختبار B8 B8 Pro بتقييم حالة المروحة عن طريق قياس سرعة دورانها. يوضح الشكل أدناه مخطط التوصيل:

ملاحظة: يجب توصيل وحدة تزويد طاقة بجهد 12 فولت لإجراء اختبار المروحة.

اختر زر "Fan Test" (اختبار المروحة) على وحدة الاختبار للدخول إلى صفحة الاختبار، ثم اضغط مع الاستمرار على زر "Right" (يمين) لضبط قيمة سرعة المروحة على 100، مما يسمح للمروحة بالعمل بأقصى سرعة. يشير وجود فرق بنسبة 10% تقريباً بين السرعة الفعلية والسرعة المضبوطة إلى التشغيل الطبيعي.

Fan Speed Val: 100 – يشير إلى أن المروحة تعمل بأقصى سرعة.

Fan Speed: 6300 – يشير إلى أن سرعة المروحة تبلغ 6300 دورة في الدقيقة (RPM).

III. احتياطات السلامة

1. يزود منفذ Type-C وحدة الاختبار بالطاقة فقط؛ بينما يجب تزويد لوحة التجزئة بالطاقة عبر وحدة تزويد طاقة منفصلة وقابلة للضبط.

2. افصل الطاقة دائماً قبل توصيل أو فصل كابلات الإشارة والطاقة؛ حيث قد يؤدي التوصيل أو الفصل أثناء التشغيل إلى تلف منافذ الإدخال/الإخراج (I/O) في جهاز الاختبار.

3. تتطلب عملية استنساخ ذاكرة EEPROM ملفاً احتياطياً من نفس إصدار العتاد؛ إذ قد يؤدي عدم تطابق البرامج الثابتة إلى حدوث أعطال في لوحة التجزئة.

4. تولد رقائق ASIC حرارة أثناء اختبار لوحة التجزئة؛ لذا يوصى باستخدام قاعدة تبريد.